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- The Hardness of Semiconductor Devices Exposed to Simulated Electromagnetic Pulses
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Bergische Universität Wuppertal (Lehrstuhl für Volkswirtschaftslehre
amodiaquine
held in Los Baños
Untersuchung der Genauigkeit bei der Mikrolaserablation formatIsbn:Softcover - 9783656951131 - The Hardness of SemiconductorBachelorarbeit aus dem Jahr 2013 im Fachbereich Ingenieurwissenschaften Maschinenbau, Note: 1,7, Karlsruher Institut fr Technologie (KIT), Sprache: Deutsch, Abstract: Die Laserablation ist ein modernes, verschleifreies Abtragsverfahren, mit dem auch winzige Strukturen przise bearbeitet werden knnen. Am Karlsruher Institut fr Technologie wurde eine Versuchsanlage zur Mikrolaserablation entwickelt. In dieser ist ein Pikosekundenlaser fr Forschungszwecke
